日立掃描電鏡_SU3800/SU3900落地式掃描電子顯微鏡特點:
①SU3900標配多功能大樣品倉,可應對大型樣品的觀察
■樣品臺可搭載大/重樣品
通過更換樣品提示,可防止由于與樣品的接觸而損壞設備或樣品
選配樣品交換倉,可在主樣品倉保持真空的狀態(tài)下快速更換樣品,大大提高了工作效率
具備樣品臺移動限制解除功能,提高了自由度*
紅外CCD探測器,提高了樣品臺移動的性
■支持全視野移動。SEM MAP支持大樣品的全視野觀察
與GUI聯(lián)合,可配備樣品倉室導航相機
覆蓋整個可觀察區(qū)域
支持360度旋轉(zhuǎn)
②隨著各種自動化功能的強化,操作性能得到了進一步優(yōu)化。
■一個鼠標就能夠輕松操作的簡約GUI
■各種自動化功能
自動調(diào)整算法經(jīng)改良后,等待時間減少至以往的1/3以下(※S-3700N比例)
提高了自動聚焦精度
搭載Intelligent Filament Technology(IFT)
■Multi Zigzag,可實現(xiàn)多區(qū)域的大視野觀察
■Report Creator,可利用獲得的數(shù)據(jù)批量生成數(shù)據(jù)報告
③可提供滿足測試需求的應用解決方案
■可滿足多種觀察需求的探測器
搭載高靈敏度UVD*,支持CL觀察
高靈敏度半導體式背散射電子探測器,切換成分/凹凸等多種圖像
■配備了多功能大樣品倉,可以搭載多種配件
■SEM/EDS一體化功能*
■三維顯示測量軟件 Hitachi Map 3D*
■支持圖像測量軟件Image pro
*選配件
日立掃描電鏡_SU3800/SU3900落地式掃描電子顯微鏡規(guī)格:
ITEM |
SU3800 |
SU3900 |
|
二級電子分解能 |
3.0nm(加速電壓30kV、WD=5mm、高真空模式) |
||
15.0nm(加速電壓1kV、WD=5mm、高真空模式) |
|||
背散射電子分解能 |
4.0nm(加速電壓30kV、WD=5mm、低真空模式) |
||
倍率 |
×5~×300,000(照片倍率*1) |
||
×7~×800,000(實際顯示倍率*2) |
|||
加速電壓 |
0.3kV~30kV |
||
低真空度設定 |
6~650 Pa |
||
圖像位移 |
±50μm(WD=10mm) |
||
大樣品尺寸 |
200mm直徑 |
300mm直徑 |
|
樣品臺 |
X |
0~100mm |
0~150mm |
Y |
0~50mm |
0~150mm |
|
Z |
5~65mm |
5~85mm |
|
R |
360°連續(xù) |
||
T |
-20°~+90° |
||
大可觀察范圍 |
130mm直徑(R并用) |
200mm直徑(R并用) |
|
大可觀察高度 |
80mm(WD=10mm) |
130mm(WD=10mm) |
|
電機驅(qū)動 |
5軸電機驅(qū)動 |
||
電子光學系統(tǒng) |
電子槍 |
預對中鎢燈絲電子槍 |
|
物像鏡頭光圈 |
4孔可動光圈 |
||
檢測系統(tǒng) |
二級電子檢測器、高靈敏半導體背散射電子檢測器 |
||
EDX分析WD |
WD=10mm(T.O.A=35°) |
||
圖像顯示 |
自動光軸調(diào)整功能 |
自動光束調(diào)整(AFS→ABA→AFC→ABCC) |
|
自動光軸調(diào)整(實時級別對齊) |
|||
自動調(diào)整光束亮度 |
|||
自動圖像調(diào)整功能 |
自動亮度和對比度控制(ABCC) |
||
自動對焦控制(AFC) |
|||
自動標記和焦點功能(ASF) |
|||
自動燈絲飽和度調(diào)整(AFS) |
|||
自動光束對準(ABA) |
|||
自動啟動(HV-ON→ABCC→AFC) |
|||
操作輔助功能 |
電子束旋轉(zhuǎn)、動態(tài)聚焦、圖像質(zhì)量改善功能、數(shù)據(jù)輸入(點對點測量、角度測量、文本)、預設放大、樣品臺位置導航功能(SEM MAP)、光束標記功能 |
||
配件 |
■硬件:軌跡球、操縱桿、操作面板、壓縮機、高靈敏度操作低空探測器(UVD)、紅外CCD探測器、攝像機導航系統(tǒng)■軟件:SEM數(shù)據(jù)管理器外部通訊接口、3D捕獲、裝置臺移動限制解除功能、EDS集成 |
||
配件(外部裝置) |
能量散射X射線分析儀(EDS)、波長色散X射線分析儀(WDS)、 |
*1.指正放大倍率為127 mm x 95 mm(4x5照片尺寸)的顯示尺寸。
*2.指定放大倍率為509.8 mm x 286.7 mm(1,920 x 1,080像素)的顯示尺寸。