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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
上海鑄金分析儀器有限公司可提供不同需求配置的汽車清潔度檢測設(shè)備相關(guān)方案。本頁面展示的是奧林巴斯清潔度檢測儀CIX100檢測系統(tǒng)參考圖片、特點(diǎn)等信息。如您想了解清潔度檢測標(biāo)準(zhǔn)、清潔度檢測設(shè)備、清潔度檢測方法等信息，都可聯(lián)系鑄金交流。
詳情介紹：
奧林巴斯清潔度檢測儀CIX100
奧林巴斯CIX100檢測系統(tǒng)是為要求生產(chǎn)組件保持較高清潔度標(biāo)準(zhǔn)的制造商而研發(fā)的整體解決方案。依照企業(yè)和**標(biāo)準(zhǔn)對技術(shù)清潔度檢測數(shù)據(jù)進(jìn)行快速采集、處理和存檔。該系統(tǒng)方便直觀的軟件可引導(dǎo)用戶完成每一步流程，即使經(jīng)驗(yàn)不足的操作員也能夠快速方便地采集清潔度數(shù)據(jù)。
奧林巴斯清潔度檢測儀CIX100檢測系統(tǒng)：讓您的技術(shù)清潔更簡便
組件、零部件與流體的清潔對于生產(chǎn)工藝十分重要。滿足對于常見微觀尺寸污染物和異物顆粒的計(jì)數(shù)、分析和分類的高標(biāo)準(zhǔn)要求對于包括**、制造、批量生產(chǎn)和成品質(zhì)量控制在內(nèi)的所有流程均非常重要。由于顆粒污染物對于零部件的使用壽命存在直接影響，**和GJ指令對于確定重要機(jī)械部件顆粒物污染的方法和存檔要求均有表述。當(dāng)前標(biāo)準(zhǔn)要求提供諸如顆粒物數(shù)量、粒度分布和顆粒物特征等有關(guān)污染物性質(zhì)的詳細(xì)信息。
奧林巴斯CIX100清潔度檢測系統(tǒng)設(shè)計(jì)可滿足現(xiàn)代工業(yè)及GJ和**指令的清潔度要求。
奧林巴斯清潔度檢測儀CIX100檢測系統(tǒng)特點(diǎn)：
?簡單可靠
硬件與軟件無縫集成的耐用型高生產(chǎn)率系統(tǒng)能夠產(chǎn)出可靠的數(shù)據(jù)。
?輕松配置用于自動化成套解決方案
?源自于穩(wěn)定測量系統(tǒng)的可重復(fù)結(jié)果
?較佳的光學(xué)性能和可再現(xiàn)成像條件
?利用集成校準(zhǔn)設(shè)備進(jìn)行自動系統(tǒng)自檢
?實(shí)現(xiàn)所有硬件組件自動控制的系統(tǒng)集成
?更友好的直觀指南
方便的專用工作流能夠盡可能減少用戶操作并提高數(shù)據(jù)可靠性，而無關(guān)操作員的經(jīng)驗(yàn)水平。
?人性化工具讓修改檢測數(shù)據(jù)更加輕松。
?通過分步指導(dǎo)提高生產(chǎn)力并縮短檢測時(shí)間
?用戶權(quán)限管理功能可盡可能減少人為錯(cuò)誤
?采用大尺寸按鈕設(shè)計(jì)，方便觸摸屏點(diǎn)擊
?合規(guī)一鍵式報(bào)告功能實(shí)現(xiàn)快速數(shù)據(jù)存檔
?所有數(shù)據(jù)均可自動保存，并可輕松導(dǎo)出和共享
?提供選配材料分析解決方案的顯微鏡模式
?快速實(shí)時(shí)分析
一體式掃描解決方案檢測反光（金屬）和非反光顆粒物的速度是需要使用兩個(gè)獨(dú)立圖像的傳統(tǒng)方法的兩倍。對已計(jì)數(shù)和已分類顆粒物的即時(shí)反饋可幫助您快速做出決定。
?概覽圖像有助于評估濾膜覆蓋情況、顆粒物聚集情況或者Z差的顆粒物
?對2.5 μm至42 mm范圍污染物顆粒進(jìn)行自動實(shí)時(shí)處理和分類
?高產(chǎn)能：系統(tǒng)可在一次掃描中同時(shí)檢測反光和非反光顆粒物
?實(shí)時(shí)分析功能讓您能夠?qū)崟r(shí)對結(jié)果做出反應(yīng)
?根據(jù)選定行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)定制符合要求的結(jié)果
?快速的數(shù)據(jù)評估
使用功能強(qiáng)大且易用的支持企業(yè)和**清潔度檢測標(biāo)準(zhǔn)的工具修改檢測數(shù)據(jù)。以盡可能節(jié)省時(shí)間的方式清晰展示所有相關(guān)檢測結(jié)果。
?圖像和數(shù)據(jù)布局清晰有序，提高數(shù)據(jù)審核效率
?多種可選視圖實(shí)現(xiàn)即時(shí)顆粒物識別
?顆粒物位置和縮略圖與實(shí)時(shí)圖像關(guān)聯(lián)
?方便對檢測數(shù)據(jù)進(jìn)行重新分類、審核修改以及重新計(jì)算
?實(shí)時(shí)顯示整體清潔度代碼、顆粒物和分類表
?通過趨勢分析識別隨時(shí)間推移的潛在測量偏差
?在一個(gè)視圖中顯示完整檢測數(shù)據(jù)
?合規(guī)報(bào)告創(chuàng)建
一鍵報(bào)告功能可滿足**標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的要求及方法。自定義報(bào)表（如，包括顆粒物形態(tài)）輕松滿足公司標(biāo)準(zhǔn)。
?使用預(yù)定義合規(guī)模板生成ZYE報(bào)告
?輕松調(diào)整模板和報(bào)告以滿足行業(yè)和公司法規(guī)
?支持包括MS Word和PDF等多種輸出格式，
?為便于交流使用，對報(bào)告文件大小進(jìn)行了優(yōu)化。
?長期數(shù)據(jù)存儲，因此可在數(shù)年后用于判斷決策合理性
奧林巴斯CIX100檢測系統(tǒng)是為要求生產(chǎn)組件保持較高清潔度標(biāo)準(zhǔn)的制造商而研發(fā)的整體解決方案。依照企業(yè)和**標(biāo)準(zhǔn)對技術(shù)清潔度檢測數(shù)據(jù)進(jìn)行快速采集、處理和存檔。該系統(tǒng)方便直觀的軟件可引導(dǎo)用戶完成每一步流程，即使經(jīng)驗(yàn)不足的操作員也能夠快速方便地采集清潔度數(shù)據(jù)。
奧林巴斯清潔度檢測儀CIX100檢測系統(tǒng)：讓您的技術(shù)清潔更簡便
組件、零部件與流體的清潔對于生產(chǎn)工藝十分重要。滿足對于常見微觀尺寸污染物和異物顆粒的計(jì)數(shù)、分析和分類的高標(biāo)準(zhǔn)要求對于包括**、制造、批量生產(chǎn)和成品質(zhì)量控制在內(nèi)的所有流程均非常重要。由于顆粒污染物對于零部件的使用壽命存在直接影響，**和GJ指令對于確定重要機(jī)械部件顆粒物污染的方法和存檔要求均有表述。當(dāng)前標(biāo)準(zhǔn)要求提供諸如顆粒物數(shù)量、粒度分布和顆粒物特征等有關(guān)污染物性質(zhì)的詳細(xì)信息。
奧林巴斯CIX100清潔度檢測系統(tǒng)設(shè)計(jì)可滿足現(xiàn)代工業(yè)及GJ和**指令的清潔度要求。
奧林巴斯清潔度檢測儀CIX100檢測系統(tǒng)特點(diǎn)：
?簡單可靠
硬件與軟件無縫集成的耐用型高生產(chǎn)率系統(tǒng)能夠產(chǎn)出可靠的數(shù)據(jù)。
?輕松配置用于自動化成套解決方案
?源自于穩(wěn)定測量系統(tǒng)的可重復(fù)結(jié)果
?較佳的光學(xué)性能和可再現(xiàn)成像條件
?利用集成校準(zhǔn)設(shè)備進(jìn)行自動系統(tǒng)自檢
?實(shí)現(xiàn)所有硬件組件自動控制的系統(tǒng)集成
?更友好的直觀指南
方便的專用工作流能夠盡可能減少用戶操作并提高數(shù)據(jù)可靠性，而無關(guān)操作員的經(jīng)驗(yàn)水平。
?人性化工具讓修改檢測數(shù)據(jù)更加輕松。
?通過分步指導(dǎo)提高生產(chǎn)力并縮短檢測時(shí)間
?用戶權(quán)限管理功能可盡可能減少人為錯(cuò)誤
?采用大尺寸按鈕設(shè)計(jì)，方便觸摸屏點(diǎn)擊
?合規(guī)一鍵式報(bào)告功能實(shí)現(xiàn)快速數(shù)據(jù)存檔
?所有數(shù)據(jù)均可自動保存，并可輕松導(dǎo)出和共享
?提供選配材料分析解決方案的顯微鏡模式
?快速實(shí)時(shí)分析
一體式掃描解決方案檢測反光（金屬）和非反光顆粒物的速度是需要使用兩個(gè)獨(dú)立圖像的傳統(tǒng)方法的兩倍。對已計(jì)數(shù)和已分類顆粒物的即時(shí)反饋可幫助您快速做出決定。
?概覽圖像有助于評估濾膜覆蓋情況、顆粒物聚集情況或者Z差的顆粒物
?對2.5 μm至42 mm范圍污染物顆粒進(jìn)行自動實(shí)時(shí)處理和分類
?高產(chǎn)能：系統(tǒng)可在一次掃描中同時(shí)檢測反光和非反光顆粒物
?實(shí)時(shí)分析功能讓您能夠?qū)崟r(shí)對結(jié)果做出反應(yīng)
?根據(jù)選定行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)定制符合要求的結(jié)果
?快速的數(shù)據(jù)評估
使用功能強(qiáng)大且易用的支持企業(yè)和**清潔度檢測標(biāo)準(zhǔn)的工具修改檢測數(shù)據(jù)。以盡可能節(jié)省時(shí)間的方式清晰展示所有相關(guān)檢測結(jié)果。
?圖像和數(shù)據(jù)布局清晰有序，提高數(shù)據(jù)審核效率
?多種可選視圖實(shí)現(xiàn)即時(shí)顆粒物識別
?顆粒物位置和縮略圖與實(shí)時(shí)圖像關(guān)聯(lián)
?方便對檢測數(shù)據(jù)進(jìn)行重新分類、審核修改以及重新計(jì)算
?實(shí)時(shí)顯示整體清潔度代碼、顆粒物和分類表
?通過趨勢分析識別隨時(shí)間推移的潛在測量偏差
?在一個(gè)視圖中顯示完整檢測數(shù)據(jù)
?合規(guī)報(bào)告創(chuàng)建
一鍵報(bào)告功能可滿足**標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的要求及方法。自定義報(bào)表（如，包括顆粒物形態(tài)）輕松滿足公司標(biāo)準(zhǔn)。
?使用預(yù)定義合規(guī)模板生成ZYE報(bào)告
?輕松調(diào)整模板和報(bào)告以滿足行業(yè)和公司法規(guī)
?支持包括MS Word和PDF等多種輸出格式，
?為便于交流使用，對報(bào)告文件大小進(jìn)行了優(yōu)化。
?長期數(shù)據(jù)存儲，因此可在數(shù)年后用于判斷決策合理性
